超快产品-飞秒测量设备-色散/反射率/CEP测量
灵活测量高反镜和色散补偿反射镜的GD和GDD，可测量近红外、可见光和UV波段，有强大的数据处理软件，测量结果与理论计算高度吻合，工作过程快速简单。
单发，多kHz 频率携带相位（CEP）测量。
单发stereo-ATI相位测量仪被广泛用于测量KHz、周期级中红外激光的脉冲载波包络相位（CEP），它是一种立体时间飞行（TOF）探测仪，可以检测阈上电离（ATI）装置中二次散射的电子的左右TOF光谱，利用其高阶相位灵敏度可测量。
我们的三阶自相关仪是用于激光脉冲对比度测量的高灵敏度诊断工具。
UFI的单发位相仪可便捷地测量几周期飞秒激光脉冲的载波至包络相位（CEP）。
我们的白光干涉仪GOBI采用光谱解析干涉法，精确测量多层次的超快光学元件的群延迟色散（GDD）。该设备是在德国马克斯·普朗克量子光学研究所（位于加尔帕兴）开发的，用于表征和优化迄今为止一些最先进的镀膜。
我们的反射计GLACIER利用腔环降谱技术的极高灵敏度，可量化先进光学镀膜的损耗，下降到5 ppm。
GLACIER利用极其敏感的腔环降谱法测量光学镀膜的损失，可测量损失至5 ppm。因此，它经常用于表征高反射镜，传统的反射和吸收测量不足以满足要求。
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