Wizzler 产品可精确测量紧密压缩的超快激光脉冲的光谱相位和强度,强调高对比度和单次发射能力。这些卓越的产品依赖于 FASTLITE 的突破性发明和专利技术–自参考光谱干涉测量法(SRSI)。
在 SRSI 中,通过交叉偏振波产生(XPW)过程,从输入脉冲中巧妙地产生出具有均匀光谱相位的参考脉冲,从而获得准确可靠的结果。
Wizzler 脉宽相位测量仪
Wizzler 脉宽相位测量仪
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Wizzler产品可提供几乎压缩的超快激光脉冲的高对比度和单次测量的光谱相位和强度。 |
主要特点/优势: |
Wizzler测量技术被称为“自参考光谱干涉法”(SRSI)。
在这种技术中,通过交叉偏振波产生(XPW),从要测量的脉冲中同轴产生具有平坦光谱相位和宽光谱的参考脉冲。对两个延迟脉冲之间的单次干涉图进行傅立叶变换光谱干涉处理,提供了高动态范围的光谱相位和强度测量,以及测量有效性的确认。
- 高动态范围
SRSI利用XPW过程固有的时间对比度增强,使用仅具有20 dB光谱信噪比的标准光谱仪提供了超过40 dB的时间动态范围。
如下所示,Wizzler产品可以测量亚皮秒范围内的小时间结构,从而提供独特的单次相干对比度信息。
下面的数据显示,使用Dazzler引入的一个在主脉冲之后300 fs的脉冲副本,以突出Wizzler的40 dB动态范围。
- 用户无关的测量
采用同轴几何设计,没有分束器或延迟线,Wizzler产品非常容易对准,使测量迅速而可重复。
SRSI技术也无需用户校准,因此可以进行用户无关的测量。
- 单次测量 - 快速处理
与扫描测量技术不同,单次测量技术不会受到来自激光稳定性的伪像的影响。相反,单次测量技术结合了快速和非迭代处理,可用于量化激光系统的脉冲持续时间稳定性。
由于SRSI算法依赖于直接相位恢复,没有任何假设或积分步骤,因此它可以将精度与快速相位处理相结合。数据记录功能使实时脉冲持续时间监测和脉冲数据收集高达10 Hz成为可能。
规格参数: |
标准Wizzler型号提供从400 nm到1 µm的波长范围,脉冲范围从4 fs到1 ps。
WIZZLER飞秒脉冲测量设备,标准型号:
- 最高动态范围
- 单次射击,单束
- 极易使用
- 无需校准
- 直接检索算法
- 数据记录
- 用于Dazzler用户的脉冲压缩优化
Wizzler产品基于FASTLITE独特的技术,该技术由FASTLITE发明并获得了专利。在这种技术中,通过交叉极化波产生(XPW),从输入脉冲中共线产生了一个具有平坦频谱相位的参考脉冲。由输入脉冲和参考脉冲组合而成的频谱干涉图案允许直接检索频谱相位和强度。
Wizzler 400 | Wizzler USP8 | Wizzler USP4 | Wizzler 800 | Wizzler 1030 | |
光谱检测波段边缘 | 380-400 nm | 550-1050 nm | 360-1100 nm | 550-1050 nm | 930-1100 nm |
脉冲持续时间范围 | 35-100fs(*) | 8-100 fs(*) | 4-100 fs(**) | 20-100fs(*) | 50-1000fs(*) |
时间测量窗口 | ±400 fs | ±400 fs | ±380 fs | ±400 fs | ±2500 fs |
对于持续时间小于100 fs的脉冲,精确度为±800 fs | |||||
时间测量动态 | >40 dB | >40 dB | >40 dB | >40 dB | >40 dB |
所需的脉冲能量 | 2-20 μJ | 5-15 μJ | 5-15 μJ | 2-20 μJ | 2-20 μJ |
(*) FTL高斯脉冲的FWHM值。
(**) 适用于典型的几个光周期谱形状。
- Dazzler用户的附加功能:
使用包括的Dazzler / Wizzler反馈环路进行高动态脉冲压缩。
- 提高对比度和峰值功率
- 日常FTL脉冲
- 日常可重复的结果
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Wizzler在Dazzler / Wizzler反馈环路之前和之后对Ti:Sa放大器(1kHz,1mJ,25fs FWHM)的测量结果。 |
要求:
输入脉冲:
偏振 | 线性 |
最小/最大能量 | 请参见规格表 |
最大平均功率 | 1 W |
光束直径 | 3 mm,背景净化 |
脉冲压缩 | < 2倍 FTL 脉冲持续时间 |
光束高度 | 可调至35 mm |
电脑要求:Windows 10,带有2个USB端口
尺寸:257x109 mm
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© FASTLITE 2020 |
还提供用于SWIR脉冲的Wizzler型号。
WIZZLER 飞秒脉冲测量设备,用于短波红外脉冲的型号:
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尺寸: 300x450 mm |
- 最大的动态范围
- 单次测量,单束测量
- 极度易于使用
- 无需校准
- 直接提取算法
- 数据记录
- 用于Dazzler用户的脉冲压缩优化
Wizzler产品基于FASTLITE独特的技术,该技术由FASTLITE发明并获得专利。在这种技术中,通过交叉极化波生成(XPW),从输入脉冲中共线生成一个具有平坦频谱相位的参考脉冲。由输入脉冲和参考脉冲组合而成的频谱干涉图案允许直接提取频谱相位和强度。
Wizzler OPA signal | Wizzler OPA idler | Wizzler SWIR | |
光谱范围 | 1,2-1,5 μm | 1,7-2,2 μm | 1,3-2,0 μm |
(中心波长 λ) | (中心波长 λ) | (中心波长 λ) | |
光谱分辨率 | 2.4 nm | 5-9 nm | 5-8 nm |
光谱带宽范围(*) | 在1.2 μm处为30-85 nm | 在1.7 μm处为65-280 nm | 在1.4 μm处为60-190 nm |
在1.35 μm处为35-105 nm | 在1.95 μm处为80-390 nm | 在1.7 μm处为85-280 nm | |
在1.5 μm处为45-130 nm | 在2.2 μm处为105-235 nm | 在2.0 μm处为120-385 nm | |
脉冲持续时间范围(*) | 25-80 fs | 在1.7-1.95 μm处为15-70 fs | 15-50 fs |
在2.2 μm处为30-70 fs | |||
时间测量窗口 | ±280 fs | ±235 fs | ±170 fs |
所需脉冲能量(**) | 5-20 μJ | 5-20 μJ | 5-20 μJ |
(*) FTL高斯脉冲的FWHM值
(**) 聚焦,<φ3 mm束
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测量1400 nm的OPA信号脉冲 |
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测量2050 nm的OPA信号脉冲 |
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测量在氙气腔内聚焦的1500 nm OPA脉冲生成的丝束 |
要求:
输入脉冲:
偏振 | 线性 |
最小/最大能量 | 请参见规格表 |
光束直径 | 小于3 mm,准直 |
最大平均功率 | 1 W |
光束高度 | 可定制至76 mm |
脉冲压缩 | 小于1.2倍FTL脉冲持续时间 |
电脑要求:Windows XP或7,带有2个USB端口
© FASTLITE 2012
应用: |
- 高强度激光测量
Wizzler独特的高动态范围引起了高强度激光物理学界的巨大兴趣,其中亚皮秒范围内的对比度对实验产生了很大影响。
因此,使用TW或PW尺度激光系统的物理学家现在每天都在使用Wizzler进行脉冲表征、数据收集,以及使用Dazzler / Wizzler反馈环路进行压缩和对比度改进。
- 少周期脉冲生成
阿秒科学需要生成超宽带和压缩良好的激光脉冲,直至几个光学周期。
Wizzler独特的特性使其成为这些脉冲的生成和表征的基本工具。
在最经典的设置中,由次30 fs Ti:Sa放大器后面跟着一个中空芯后压缩光纤组成,Ti:Sa放大器脉冲压缩的质量对发生在光纤中的非线性效应产生很大影响。使用Dazzler / Wizzler反馈环路仔细压缩放大器可以获得更短、更容易压缩的少周期脉冲。
在其USP版本中,Wizzler还是执行单次高对比度脉冲表征的绝佳工具,可以测量4 fs的脉冲。
选项: |
- 真空兼容性
对于几周期或高强度脉冲的目标光谱相位测量来说,总是具有挑战性的,因为这些实验是在真空条件下进行的。
虽然Wizzler软件包括一个真空室窗口色散补偿计算模块,但直接在真空下进行这种测量可能会更有趣。