Beam'R2非常适合许多激光光束剖析应用，是经济实惠的小光斑扫描狭缝型光束分析仪。
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产品描述
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Beam'R2 光束分析仪
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DataRay 的 Beam'R2 是一款非常适合多种激光光束分析应用的扫描狭缝仪。它配备标准的 2.5 µm 狭缝以及更大的刀口式狭缝，能够测量直径小至 2 µm 的光束。可选硅（Si）、InGaAs 或扩展型 InGaAs 探测器，使得 Beam'R2 能够覆盖从 190 nm 到 2500 nm 的光束剖面测量范围。相比于基于相机的系统，扫描狭缝仪器具有更高的测量分辨率。 |
| 主要特点/优势： |
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| 示例应用： |
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| 规格参数： |
| 规格 | 细节参数 |
| 波长 | Si 探测器：190 至 1150 nm InGaAs 探测器：650 至 1800 nm Si + InGaAs：190 至 1800 nm Si + InGaAs（扩展型）：190 至 2300 或 2500 nm |
| 扫描光斑直径范围 | Si 探测器：5 µm 到 4 mm；刀口模式可小至 2 µm InGaAs 探测器：10 µm 到 3 mm；刀口模式可小至 2 µm InGaAs（扩展）探测器：10 µm 到 2 mm；刀口模式可小至 2 µm |
| 光束腰直径测量 | 满足 ISO 11146 标准的二阶矩（4σ）直径；支持高斯拟合与TopHat拟合 1/e²（13.5%）宽度 用户可选择峰值百分比 刀口模式适用于极小光斑 |
| 可测光源类型 | 连续波（CW）、准连续波（Quasi-CW）光束 |
| 分辨率与精度 | 0.1 µm 或扫描范围的 0.05%，误差 ± < 2%（±0.5 µm） |
| 最大功率与光强 | 最大总功率 1 W；最大光强 0.5 mW/µm² |
| 增益范围 | 1000:1（可切换）；ADC范围达 4096:1 |
| 图形显示 | X-Y 位置与剖面图；放大倍率从 1 倍至 16 倍 |
| 刷新率 | 约 5 Hz，可调范围 2 至 10 Hz |
| 合格/不合格显示 | 屏幕上可自定义合格/不合格颜色，适合质检与生产应用 |
| 数据平均 | 用户可选滑动平均（1 至 8 个样本） |
| 统计功能 | 最小值、最大值、平均值、标准差；支持长时间数据记录 |
| X-Y 剖面与质心功能 | 显示光束漂移并支持日志记录 |
| 最低系统要求 | Windows 10 64 位操作系统 |
| 最低系统需求 | Windows 10 64 位 |
*产品规格如有更改，恕不另行通知。
| 图表： |
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