超快产品
我们的高次谐波发生(HHG)设置包括真空室、所有必要的KF真空组件(包括泵)和一个全自动化的气体靶。
UFI的单发位相仪可便捷地测量几周期飞秒激光脉冲的载波至包络相位(CEP)。
我们的脉冲延迟单元利用了我们的XUV /软X射线多层双镜并结合了我们在泵浦-探测实验装置方面的丰富知识。
我们的白光干涉仪GOBI采用光谱解析干涉法,精确测量多层次的超快光学元件的群延迟色散(GDD)。该设备是在德国马克斯·普朗克量子光学研究所(位于加尔帕兴)开发的,用于表征和优化迄今为止一些最先进的镀膜。
我们的反射计GLACIER利用腔环降谱技术的极高灵敏度,可量化先进光学镀膜的损耗,下降到5 ppm。
GLACIER利用极其敏感的腔环降谱法测量光学镀膜的损失,可测量损失至5 ppm。因此,它经常用于表征高反射镜,传统的反射和吸收测量不足以满足要求。
GLACIER®-123是UFI's®的GLACIER®系列的最新成员,设计为多波长系统。它是首个在355 nm波长下进行测量的仪器。它包括一个微芯片激光器,可以发射1064 nm、532 nm和355 nm的辐射,特别适用于需要这些谐波波长的用户。
软X射线/XUV/VUV光谱仪具有集成的狭缝支架、闸阀和滤光片插入装置,以及沿三个轴的电动光栅定位功能。
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