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BeamMap2 XYZΘΦ 扫描狭缝光束轮廓仪

BeamMap2的独特且专利的设计在实时测量焦点位置、M2、光束发散度和指向性方面具有最大的优势。

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产品描述
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BeamMap2 光束分析仪

DataRay 的 BeamMap2 提供了一种全新的实时光束剖面分析方式。它在 Beam'R2 的基础上进一步拓展了测量能力,可在光束传播路径上的多个位置进行测量。该实时扫描狭缝系统通过安装在旋转盘上的多组 Z 轴平面的 XY 狭缝对,能够同时在四个不同的 Z 位置测量四个光束剖面。BeamMap2 独特的设计特别适用于实时测量焦点位置、M² 值、光束发散角以及光束指向等参数。

 

主要特点/优势:
  • 多种探测器选项,覆盖波长范围 190 到 2500 nm:

    • 190–1150 nm:硅(Si)探测器

    • 650–1800 nm:InGaAs 探测器

    • 1800–2300/2500 nm:扩展型 InGaAs 探测器

  • 符合 ISO 标准的光束直径测量

  • USB 2.0 接口供电

  • 自动增益功能

  • 可选配支持 ISO 11146 标准 M² 测量的滑台附件

  • True2D™ 狭缝技术

  • 分辨率高达 0.1 µm

  • 更新速率 5 Hz(可调范围 2–10 Hz)

  • 支持连续波(CW)和准连续波(Quasi-CW)光束剖面分析

  • 可测光斑直径范围:5 µm 至 4 mm

  • 多个 Z 平面的光束剖面扫描

  • 可同时获取 XYZ 剖面以及 θ–Φ 指向角信息

  • 实时测量焦点位置与光斑直径

  • 实时 M²、光束指向与发散角测量

  • 可实现 ±1 µm 重复性识别焦点位置(具体取决于光束特性)

示例应用:
  • 微小激光光斑的剖面测量

  • 光学组件装配与系统对准

  • OEM 系统集成

  • 透镜焦距测试
  • 聚焦与准直误差的实时诊断

  • 多个光学组件焦点统一调节

  • 配合 M2DU 滑台进行 M² 测量

规格参数:
规格 细节参数
波长 Si 探测器:190 至 1150 nm
InGaAs 探测器:650 至 1800 nm
Si + InGaAs 探测器组合:190 至 1800 nm
Si + 扩展型 InGaAs 探测器组合:190 至 2300 或 2500 nm
扫描光斑直径范围  Si 探测器:5 µm 至 4 mm
InGaAs 探测器:10 µm 至 3 mm
扩展型 InGaAs 探测器:10 µm 至 2 mm
Z 轴平面间距(Plane Spacing) 100 µm:-100、0、+100、+400 µm
250 µm:-250、0、+250、+1000 µm
500 µm:-500、0、+500、+2000 µm
750 µm:-750、0、+750、+3000 µm
光束腰直径测量 满足 ISO 11146 的二阶矩(4σ)直径
支持高斯拟合与顶帽拟合
1/e²(13.5%)宽度
可由用户设置峰值百分比
光束腰位置测量 X、Y、Z 三轴方向的最优重复性 ±20 µm(建议联系 DataRay 获得推荐方案)
可测光源类型 连续波(CW)、准连续波(Quasi-CW)激光
分辨率精度 0.1 µm 或扫描范围的 0.05%
误差:± <2%(±0.5 µm)
M² 测量范围 1 到 >20,精度 ±5%
发散角 / 准直度 / 指向测量 最优分辨率达 1 mrad(建议联系 DataRay 获取推荐方案)
最大功率与光强密度 最大总功率 1 W,最大光强密度 0.5 mW/µm²
增益范围 切换增益比 1000:1,ADC 动态范围达 4096:1
图形显示 X-Y 位置图与剖面图,支持 1 倍至 16 倍缩放
刷新率 约 5 Hz,可调节范围 2 至 10 Hz
合格/不合格显示 屏幕上可设置合格/不合格颜色,适合质检与生产使用
数据平均处理 用户可选滑动平均,支持 1 至 8 次采样平均
统计功能 最小值、最大值、平均值、标准差;支持长期数据记录
XY 剖面与质心 可显示光束漂移并记录相关数据
最低系统要求 Windows 10 64 位操作系统

* 产品规格可能在未通知的情况下变更。

图表: