BeamMap2的独特且专利的设计在实时测量焦点位置、M2、光束发散度和指向性方面具有最大的优势。
BeamMap2 XYZΘΦ 扫描狭缝光束轮廓仪
BeamMap2 光束分析仪
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DataRay 的 BeamMap2 提供了一种全新的实时光束剖面分析方式。它在 Beam'R2 的基础上进一步拓展了测量能力,可在光束传播路径上的多个位置进行测量。该实时扫描狭缝系统通过安装在旋转盘上的多组 Z 轴平面的 XY 狭缝对,能够同时在四个不同的 Z 位置测量四个光束剖面。BeamMap2 独特的设计特别适用于实时测量焦点位置、M² 值、光束发散角以及光束指向等参数。
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主要特点/优势: |
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示例应用: |
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规格参数: |
规格 | 细节参数 |
波长 | Si 探测器:190 至 1150 nm InGaAs 探测器:650 至 1800 nm Si + InGaAs 探测器组合:190 至 1800 nm Si + 扩展型 InGaAs 探测器组合:190 至 2300 或 2500 nm |
扫描光斑直径范围 | Si 探测器:5 µm 至 4 mm InGaAs 探测器:10 µm 至 3 mm 扩展型 InGaAs 探测器:10 µm 至 2 mm |
Z 轴平面间距(Plane Spacing) | 100 µm:-100、0、+100、+400 µm 250 µm:-250、0、+250、+1000 µm 500 µm:-500、0、+500、+2000 µm 750 µm:-750、0、+750、+3000 µm |
光束腰直径测量 | 满足 ISO 11146 的二阶矩(4σ)直径 支持高斯拟合与顶帽拟合 1/e²(13.5%)宽度 可由用户设置峰值百分比 |
光束腰位置测量 | X、Y、Z 三轴方向的最优重复性 ±20 µm(建议联系 DataRay 获得推荐方案) |
可测光源类型 | 连续波(CW)、准连续波(Quasi-CW)激光 |
分辨率精度 | 0.1 µm 或扫描范围的 0.05% 误差:± <2%(±0.5 µm) |
M² 测量范围 | 1 到 >20,精度 ±5% |
发散角 / 准直度 / 指向测量 | 最优分辨率达 1 mrad(建议联系 DataRay 获取推荐方案) |
最大功率与光强密度 | 最大总功率 1 W,最大光强密度 0.5 mW/µm² |
增益范围 | 切换增益比 1000:1,ADC 动态范围达 4096:1 |
图形显示 | X-Y 位置图与剖面图,支持 1 倍至 16 倍缩放 |
刷新率 | 约 5 Hz,可调节范围 2 至 10 Hz |
合格/不合格显示 | 屏幕上可设置合格/不合格颜色,适合质检与生产使用 |
数据平均处理 | 用户可选滑动平均,支持 1 至 8 次采样平均 |
统计功能 | 最小值、最大值、平均值、标准差;支持长期数据记录 |
XY 剖面与质心 | 可显示光束漂移并记录相关数据 |
最低系统要求 | Windows 10 64 位操作系统 |
* 产品规格可能在未通知的情况下变更。
图表: |
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