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1064nm谐波反射&损耗测量仪

GLACIER®-123是UFI's®的GLACIER®系列的最新成员,设计为多波长系统。它是首个在355 nm波长下进行测量的仪器。它包括一个微芯片激光器,可以发射1064 nm、532 nm和355 nm的辐射,特别适用于需要这些谐波波长的用户。

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GLACIER®-123 1064 nm 谐波反射计和损耗计

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GLACIER®-123是UFI's®的GLACIER®系列的最新成员。设计为多波长系统,它是首个在355 nm波长下进行测量的仪器。它包括一个微芯片激光器,可以发射1064 nm、532 nm和355 nm的辐射,特别适用于需要这些谐波波长的用户。

我们的反射计采用腔环消谱法的极端敏感性来量化先进光学镀膜的损耗,可以测量低至5 ppm的损耗。作为典型应用,该设备可以表征具有高达99.9995%反射率的超级镜面。传统的吸收和反射测量不足以量化今天的超高反射镜面镀膜的敏感度,通常限制在大于1000 ppm的范围内(对应于小于99.9%的反射率)。腔环消谱法通过测量腔内储存的能量的衰减来测量光学损耗。

该技术具有无与伦比的敏感性,因为损耗在每次腔内往返后都会反复发生。较低的损耗会导致较长的腔内停留时间,从而自动提高测量精度。该设备具有高速数据采集功能,可以在几秒内记录测量结果。它附带了一台计算机和一个用户友好的软件界面,用于数据采集和实时分析。

工作原理:

Glacier采用腔环消谱法的反射率/损耗测量原理,基于每次反射时的非常低损耗。激光脉冲在腔内往返过程中反复经历光学损耗。

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GLACIER的拟合过程示意图

该设备测量通过腔体(中心)的末端镜子泄漏的时间相关强度I(t)。信号以时间常数衰减,该常数取决于腔内的损耗,并可拟合为以下指数函数:

I(t) = I(t0) · exp(-t/τ)

时间常数τ与具有总反射率R的腔体的光学损耗(1-R)成反比:

τ =n/c · L/(1-R),这里,n是折射率,c是光速,L是腔体长度。

主要特点/优势:GLACIER®-123

  • 反射率测量
    • 可达99.9995%的反射率
    • 不同入射角度: 5° - 45° (以及0°)
    • s和p 极化 (分别测量)
  • 抗反射镀膜表征:反射率低至0.0005%(5 ppm)
  • 0.5 "、1 "和2 "光学元件的简单可重复对准
  • 弹簧加载的镜子夹具,可实现可重复的安装而不会受到应力
  • 包含计算机和用户友好的软件界面
  • 高速数据采集和实时分析
  • 工作波长:355、532和1064 nm(可以添加第4个二极管激光波长)
  • 标准尺寸: 90 x 55 cm2

规格参数:

  GLACIER-123
波长数量
最大波长数量
以后可以添加更多波长 是的
波长范围 355, 532 和 1064 nm
第四波长:
二极管激光器
(375 — 1550 nm)
激光源 微芯片激光器
标准尺寸 90 × 55 cm²
反射率测量 反射率高达 99.9995%
防反射镀膜表征 反射率低至 0.0005% (5 ppm)
入射角 5°— 45° 和 0°
偏振 s 和 p (分开测量)
光学尺寸 0.5 ", 1 "(要求2 " 或更大)
软件 附带计算机和用户友好的软件界面

样品测量:

典型的GLACIER测量结果包括1064 nm、532 nm和355 nm的低损失镜片。为了获得样本损耗,测量了带有和不带样本的腔体损耗,并进行了相减处理。这提供了对测试镜片的绝对测量。

低损耗镜子(1064 nm),s-极化,入射角为45度

低损耗镜子(532 nm),s-极化,入射角为0度

低损耗镜子(355 nm),s-极化,入射角为0度

 

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