GLACIER利用极其敏感的腔环降谱法测量光学镀膜的损失，可测量损失至5 ppm。因此，它经常用于表征高反射镜，传统的反射和吸收测量不足以满足要求。
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产品描述
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GLACIER®-C 超连续光源空腔消光反射仪 |
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GLACIER-C是我们成功的GLACIER反射计的进一步发展。GLACIER利用极其敏感的腔环降谱法测量光学镀膜的损失，可测量损失至5 ppm。因此，它经常用于表征高反射镜，传统的反射和吸收测量不足以满足要求。 GLACIER-C的创新之处在于采用了超连续激光光源与可调谐单色仪相结合。这允许在450 nm到2000 nm范围内自由选择波长，因此提供了前所未有的灵活性，不受可用二极管激光器波长的限制。GLACIER-C将GLACIER的无与伦比的灵敏度与独特的波长灵活性相结合，成为市场上最强大的设备。该设备具有高速数据采集功能，可在几秒钟内记录测量数据。用户友好的软件和运动支架上光学部件的轻松更换使波长的快速更改成为可能。 工作原理： 使用腔环降谱法进行反射率/损失测量的原理基于每次镜子反射都有非常低的损失。激光脉冲在腔内传播，在每次往返过程中都会经历光学损失。该设备测量通过腔体末端镜子泄漏的时间依赖强度I(t)（中心）。信号的衰减速度与腔内损失有关，具有一个时间常数。 |
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GLACIER的拟合过程示意图 |
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主要特点/优势：GLACIER®-C |
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规格参数： |
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光源： |
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这个光源包括一个超连续激光源和一个单色器。单色器是可调谐的，因为它采用声光可调滤光片（AOTF）。单色器配备了两个AOTF晶体，每个晶体在不同的宽波长范围内起作用。晶体的选择确定了可用的波长，并可以从七种不同的晶体中选择以满足个人需求。 示例1：640 nm至1100 nm和1200 nm至2000 nm 示例2：450 nm至650 nm和800 nm至1400 nm |
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样品测量： |
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640 nm波长，入射角为5度，s-极化 |
940 nm波长，入射角为5度，s-极化 |
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1064 nm波长，入射角为5度，s-极化 |
1417 nm，包括湿度损耗 |
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这些图表展示了三个高反射样品的典型测量以及一个空腔的测量（在1417 nm处），其中腔内的湿度引起了额外的损耗。所有测量都是使用同一台GLACIER-C设备记录的，展示了其波长灵活性。损耗是通过测量带有和不带有测试样品的腔内损耗来获得的。这提供了对测试样品的绝对测量。 |
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