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SID4 波前传感器

自适应光学系统在高功率激光中具有重要作用,可以改善光束聚焦,提高应用端的峰值功率密度。

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SID4 波前传感器

 

自适应光学系统在高功率激光中具有重要作用,可以改善光束聚焦,提高应用端的峰值功率密度。Phasics的SID4系列波前传感器结合客户选择的变形镜系统,提供了最精细的相位校正能力,可基于多年的自适应光学经验为客户提供最佳反馈和控制方案。

 

产品特点:

  •  高分辨率-160x120 相位图
  • 消色差-400-1100 nm范围均可使用
  • 自参考-对外界振动不敏感
  • 结构紧凑
  • 适应性强-直接测量发散或准直光束

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SID4的范围从UV到IR

型号详见下表:

Phasics 的SID4 波前传感器可以兼容任何类型的变形镜系统,在拍瓦激光系统中,搭配法国ISP 公司的机械式变形镜系统,为客户提供性价比最高的波前测量和控制方案。

除了校正激光系统中的像差等波前扭曲之外,SID4还可以放置在聚焦元件(比如离轴抛物面镜)的后面,如偏离轴的抛物面镜,以实现最佳聚焦。该传感器还可以控制变形镜的姿态,从而控制聚焦点的三维位置。

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对于研究激光与气体相互作用以产生电子或次级辐射源的研究人员来说,SID4不仅提供了与变形镜系统匹配的最佳聚焦点,还可以准确诊断离子化条件下气体静态和动态密度,从而更好地理解激光-气体相互作用过程,并分析电子或次级辐射源的相应特性。以下图片来自LBNL的Bella实验室和法国LOA超强激光设施。

典型应用:

  • 精确光束相位诊断
  • 气体和等离子体密度测量
  • 自适应光学系统
  • 在线光学质量检测

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型号
参数
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SID4 UV HR
最低至190nm波长感光灵敏 ; 2 nm RMS高相位灵敏度 ; 512x 512超高相位取样分辨率
SID4 HR
416 x 360超高相位取样分辨率 ; 9.98 x 8.64 mm² 大分析靶面 ; 可接收最高至NA=0.8高数值孔径发散光束
SID4 SWIR HR
覆盖 0.9 to 1.7 µm 短波红外波段 ; 160 x 128 高相位分辨率 ; 高感光灵敏度 - 可适用于低功率红外光源测试
SID4 SWIR
80 x 64高相位分辨率 ; 高感光灵敏度 - 可适用于低功率红外光源测试 ; 瞬时相位测量,对振动不敏感 ; 可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷。
SID4 UHR
超高分辨率 ; 超大靶面分析尺寸: 15.16 x 15.16 mm² ; 自消色差
SID4 eSWIR
1.2至2.2 µm扩展波段全覆盖 ; 80 x 64高相位分辨率 ; 瞬时相位测量,对振动不敏感 ; 可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷。
SID4 eSWIR HR
1.2至2.2 µm扩展波段全覆盖 ; 159 x 127高相位分辨率 ; 瞬时相位测量,对振动不敏感 ; 可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷。
SID4 DWIR
160 x 120 高相位分辨率 ; 中远红外双波段2合1 ; 高数值孔径测量无需过渡镜
SID4 HR V
真空兼容性至 10-6毫巴 ; 不受真空环境下热效应和机械效应的影响 ; 低放气率
SID4 UV
300 x 300超高相位取样分辨率 ; 2nm RMS高相位灵敏度 ; 紫外波段波前测量的通用解决方案
SID4
2 nm RMS高相位灵敏度 ; 400 - 1100 nm工作波长范围内自消色差无需校准 ; 瞬时相位测量,对振动不敏感 ; 可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷