WinCamD-QD系列采用胶体量子点传感器，可为可见光、短波红外(SWIR)和增强短波红外(eSWIR)光源提供高质量的光束剖面分析。
卓越的光束分析能力，波长覆盖可达 2 微米。
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WinCamD-QD 量子点SWIR光束分析仪
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WinCamD-QD 光束分析仪
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WinCamD-QD 系列采用胶体量子点传感器（Colloidal Quantum Dot Sensor），可为可见光、短波红外（SWIR）和扩展短波红外（eSWIR）光源提供高质量的光束剖面分析。其像素尺寸为 15 微米，波长覆盖范围广达 350 至 2000 纳米，提供无与伦比的光束分析性能。其信噪比超过 2100:1，符合 ISO 11146 光束测量标准。最先进的量子点传感器具备极高灵敏度，并配备全局快门，适用于脉冲光束测量。
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| 主要特点/优势： |
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| 示例应用： |
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| 规格参数： |
| 规格 | 细节参数 |
| 传感器类型 | 胶体量子点（Colloidal Quantum Dot, CQD）涂覆在 CMOS 读出集成电路（ROIC）上 |
| 波长范围 | S-WCD-QD-1550 系列：可见光至短波红外（VIS-SWIR）400–1700 nm S-WCD-QD-2000 系列：可见光至扩展短波红外（VIS-eSWIR）350–2000 nm |
| 像素数量（H x V） | S-WCD-QD-1550/2000：640 x 512 S-WCD-QD-1550/2000-L：1280 x 1024 S-WCD-QD-1550/2000-XL：1920 x 1080 |
| 成像面积 | S-WCD-QD-1550/2000：9.5 x 7.68 mm S-WCD-QD-1550/2000-L：19.2 x 15.36 mm S-WCD-QD-1550/2000-XL：28.8 x 16.2 mm |
| 像素尺寸 | 15 x 15 微米 |
| 最小光斑（10 像素） | 约 150 微米 |
| 快门类型 | 全局快门 |
| 最大全帧帧率 | S-WCD-QD-1550/2000：25 fps S-WCD-QD-1550/2000-L：25 fps S-WCD-QD-1550/2000-XL：<25 fps |
| 信噪比（RMS） | ≥2100:1 |
| 光学/电气 dB | 33 dB / 66 dB |
| 模数转换器（ADC） | 14 位 |
| 可测光源类型 | 连续波（CW）与支持外部同步的脉冲光源 |
| 可测光束功率 | 待定 |
| 手动光束衰减 | 随机提供 C 接口 ND 滤光片：ND-1、ND-2、ND-4 |
| 显示图像类型 | 2D 和 3D 图像；支持 10、16、256 色或最大色彩/灰度显示，支持 10 色与 16 色等高线显示 |
| 光束轮廓参数（测量与显示） | 原始与平滑轮廓 三角滑动平均滤波器（最高 10% FWHM） |
| 光斑直径测量 | 用户设定两个裁剪阈值下的直径 高斯拟合与二阶矩直径 用户设定阈值以上区域的等效直径 等效狭缝与刀口直径 |
| 光束拟合 | 高斯与平顶（Top Hat）拟合及其拟合优度 等效狭缝拟合 |
| 光束椭圆率 | 主轴、次轴与平均直径；支持自动轴向识别 |
| 光束质心位置 | 相对与绝对质心；强度加权质心与几何中心 |
| 光束漂移显示及统计 | 支持 |
| 测量精度（不受像素尺寸限制） | 插值处理分辨率：5 微米；实际精度依光斑而定，通常可达约 10 微米 质心精度亦受光斑影响，通常可达 ±10 微米（通过所有超过裁剪阈值的像素计算） |
| 图像处理选项 | 图像与轮廓平均：1、5、10、20 帧，或连续 背景采集与扣除 用户设定矩形采集区域 支持用户设定或自动识别椭圆形包含区域并进行光斑跟踪处理 *.ojf 文件保存所有 WinCamD 的测试配置参数 |
| 合格/不合格显示 | 屏幕上可选的合格/不合格颜色显示，适用于质检与生产 |
| 数据记录与统计 | 最小值、最大值、平均值、标准差，最多支持 4096 次采样 |
| 相对功率测量 | 基于用户初始输入的滚动直方图，单位支持 mW、µJ、dBm、%、或自定义单位（相对于参考值） |
| 能量密度 | 可在用户自定义区域内测量 |
| 认证 | RoHS、WEEE、CE |
| 多摄像头 | 支持最多 4 台相机并行采集，1 至 8 台串行采集 |
| 相机尺寸（宽 x 高 x 深） | 61 x 61 x 99 mm |
| 外壳/滤光片到传感器的光学深度（无窗口） | 17.5 mm |
| 安装 | 待定 |
| 重量 | 407 克（14.35 盎司） |
* 产品规格如有更改，恕不另行通知。
| 图表： |
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