UFI 白光干涉仪
白光干涉仪---二阶色散测量
超快激光对其光学元件特别是反射类型的光学元件，都要求对镀膜引入的色 散具有良好的控制，但在实际应用中，由于制造误差的不可避免，实际结果与理 论设计一定会有偏差，GD和GDD对镀膜的厚度非常敏感，即使使用最先进镀膜 技术，误差也是不可能被完全消除的，所以对光学元器件的GD和GDD的准确测 量有着至关重要的作用。德国Ultrafast Innovations的GOBI系列白光干涉仪，采用 光谱分辨干涉法精确测量可以帮助用户获得准确的二阶色散曲线。
技术特点：
▪ 可选波段：400-1060nm，250-1060nm和900-2400nm；
▪ 不需要参考激光和指定得反射率
▪ S和P偏振均可分别测量
▪ 强大的数据处理软件
▪ 测量结果与理论计算高度吻合 ▪ 快速简单的工作过程
GOBI测量的GDD与理论设计的比较。(a) 独特的双角度设计的超宽带PC70（UFI生产的啁啾镜），测量5°和19°法向入射角，以及平均值的结果。(b)红外脉冲压缩镜PC1921的测试结果。(c)高色散的HD73反射镜的结果（1030 nm时改 变-3000 fs2）。
与其他设备相比，GOBI白光干涉仪能够测量强GDD振荡。值得注意的是，例图中测量曲线和理论曲线之间的差异反映了光学元件膜层制造过程中的公差。
GD(a)和GDD(b)是实际测量UV光束在镜面的反射率(绿色曲线)和相应的理论预测(红线)的对比。
超宽带的96层膜色散补偿反射镜的GD(c)和GDD (d)的实际测量(绿色)和理论数据(红色)的对比。
